与Si-PiN二极管探测器相比,SDD:
-能够处理更高的计数率
-分辨率更低(更好)
-背景水平较低
较高的计数率意味着在许多应用中,管可以在较高的电流下工作,因此可以在与管脚相同的测试时间内达到较低的LOD。
更好的分辨率意味着分析器可以更好地分离重叠的峰,这意味着对于区域靠近的元素,LOD更低。较低(较好)的分辨率对于最轻的元素Mg/Al/Si尤其重要。
较低的背景水平意味着较少的误差引入的背景减法,这也导致较低的LOD。
2021-04-12
2021-01-15
2020-12-17
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