合金的分析曲线好坏怎么辨别?

工作曲线对的数据应该是看激发数据了解当前设备状况,而激发标准样完成后的校正数据如果与此差异很大,那也不会太准。

04-12-21 , 浏览327

光谱仪停用了一般时间,光强值降之后打不上去。灯曝光后光强值正常,光强却很小,是什么原因?

①检查系统光路,重新描迹。②光强值下降一般是光路的原因,检查透镜是否污染或检查真空室的真空度。③机器需要稳定一段时间,必要时候需要调折射镜,找谱线。④请检查一下快门,是否在曝光时没有完全打开。

04-12-21 , 浏览294

铸铁熔炼时钢水取样怎样能使其白口?

炉前化验,要快,所以需要离炉前很近,样模尽量取直径35-40MM,厚6-8MM,外加一小手柄便于用砂轮磨样,这样试样冷却快,白口好,待铁水浇后30秒左右(砂模)取出,开水浇再冷水冷。

04-12-21 , 浏览347

光谱仪需要清理的过滤网的位置在哪里?

过滤网在仪器的两侧风扇进气处,可以拿用风吹或是用清洁剂清洗,务必凉干。

04-12-21 , 浏览302

突然出现了所有元素偏低的现象是什么原因?

一般不是光谱仪硬件的问题,检查仪器的透镜是否被污染,灰的排出是否通畅;氩气的质量对于元素偏低现象是一个很重要的因素,要确保氩气质量正常。

04-12-21 , 浏览357

光谱仪跟中频和变压器的距离只有10米左右,是否会影响到光谱仪的稳定性和精度?

只要接地良好且可靠,电源波动小,光谱仪受外界干扰就小,如果光谱仪与中频变压器用同一相电源,容易引起电磁干扰,有可能造成仪器测量误差。

04-12-21 , 浏览287

为什么合金中的LOD不同于塑料或土壤中的LOD?

合金和密度更高的基体往往更难获得较低的检测水平,因为样品中会出现某些现象。在诸如铁合金等密度较大的材料中,很难获得低铅的结果。

04-12-21 , 浏览291

合金和采矿模式之间有什么区别?

合金与采矿方式有一些相似之处。两者都使用FP计算,并且都使用相同的纯元素校准集。然而,软件中的因子集标准和计算是不同的,因为它们针对不同的应用。

04-12-21 , 浏览318

便携式XRF在样品中的常见渗透是什么?

XRF是一种表面测试技术。贯穿件如下:-合金小于1mm-5毫米左右的土壤取决于密度。-塑料约10 mm-液体约15mm

04-12-21 , 浏览295

什么是INC?如何在RoHS模式下进行控制?

在均匀样品上,700–3σ和1300+3σ之间的任何结果都被归类为INC。对于非均质样品,该范围从低端的500增加到高端的150

04-12-21 , 浏览380

什么是仪器测试的区域?

分析仪测试的区域大致与仪器窗口的大小相同。除非使用准直仪器,否则大多数仪器都是如此。在这种情况下,客户可以选择6 mm、3 mm和1.5 mm的区域并在分析仪上查看。

04-12-21 , 浏览304

管子的一般寿命是多少?

管子的保修期约为2000小时,即2年。如果仪器每天运行测试(试管激活)4小时,每年50周,试管将在2年内达到2000小时。现场有许多管子已达到4000小时。

04-12-21 , 浏览369

进行样品分析时,需要准备什么?

使用便携式XRF进行筛选分析时,通常不需要样品制备。如果样品均匀,则无需制备样品。通常情况下,样品不均匀,少量样品制备有助于获得更好的结果。

04-12-21 , 浏览348

硅漂移探测器(SDD)和硅引脚二极管探测器之间的区别是什么?

较高的计数率意味着在许多应用中,管可以在较高的电流下工作,因此可以在与管脚相同的测试时间内达到较低的LOD。

04-12-21 , 浏览356

为什么不能用XRF测量氧或氢?为什么像镁和铝这样的轻元素很难测量?

很轻的元素不能用XRF测量的主要原因是这些元素产生的x射线太弱,无法到达探测器。x射线在空气中传播的能力取决于它的能量,对于小于2kev的x射线,大多数在到达探测器之前就被吸收了。

04-12-21 , 浏览360

50keV和40keV的分析适合的应用是什么?

当感兴趣的元素的发射线能量较高时(通常>20-25keV),50keV激发是有用的。实际上,这意味着像I、Cs、Ba、La、Nd这样的令人兴奋的元素在使用50keV x射线时会容易得多,而使用4...

04-12-21 , 浏览411