光谱仪停用了一般时间，光强值降之后打不上去。灯曝光后光强值正常，光强却很小，是什么原因？
①检查系统光路，重新描迹。②光强值下降一般是光路的原因，检查透镜是否污染或检查真空室的真空度。③机器需要稳定一段时间，必要时候需要调折射镜，找谱线。④请检查一下快门，是否在曝光时没有完全打开。
04-12-21 ， 浏览904
铸铁熔炼时钢水取样怎样能使其白口?
炉前化验，要快，所以需要离炉前很近，样模尽量取直径35-40MM，厚6-8MM，外加一小手柄便于用砂轮磨样，这样试样冷却快，白口好，待铁水浇后30秒左右（砂模）取出，开水浇再冷水冷。
04-12-21 ， 浏览824
突然出现了所有元素偏低的现象是什么原因？
一般不是光谱仪硬件的问题，检查仪器的透镜是否被污染，灰的排出是否通畅；氩气的质量对于元素偏低现象是一个很重要的因素，要确保氩气质量正常。
04-12-21 ， 浏览897
光谱仪跟中频和变压器的距离只有10米左右,是否会影响到光谱仪的稳定性和精度?
只要接地良好且可靠，电源波动小，光谱仪受外界干扰就小，如果光谱仪与中频变压器用同一相电源，容易引起电磁干扰，有可能造成仪器测量误差。
04-12-21 ， 浏览800
为什么合金中的LOD不同于塑料或土壤中的LOD？
合金和密度更高的基体往往更难获得较低的检测水平，因为样品中会出现某些现象。在诸如铁合金等密度较大的材料中，很难获得低铅的结果。
04-12-21 ， 浏览789
合金和采矿模式之间有什么区别？
合金与采矿方式有一些相似之处。两者都使用FP计算，并且都使用相同的纯元素校准集。然而，软件中的因子集标准和计算是不同的，因为它们针对不同的应用。
04-12-21 ， 浏览927
什么是INC？如何在RoHS模式下进行控制？
在均匀样品上，700–3σ和1300+3σ之间的任何结果都被归类为INC。对于非均质样品，该范围从低端的500增加到高端的150
04-12-21 ， 浏览955
什么是仪器测试的区域？
分析仪测试的区域大致与仪器窗口的大小相同。除非使用准直仪器，否则大多数仪器都是如此。在这种情况下，客户可以选择6 mm、3 mm和1.5 mm的区域并在分析仪上查看。
04-12-21 ， 浏览810
管子的一般寿命是多少？
管子的保修期约为2000小时，即2年。如果仪器每天运行测试（试管激活）4小时，每年50周，试管将在2年内达到2000小时。现场有许多管子已达到4000小时。
04-12-21 ， 浏览1154
进行样品分析时，需要准备什么？
使用便携式XRF进行筛选分析时，通常不需要样品制备。如果样品均匀，则无需制备样品。通常情况下，样品不均匀，少量样品制备有助于获得更好的结果。
04-12-21 ， 浏览888
硅漂移探测器（SDD）和硅引脚二极管探测器之间的区别是什么？
较高的计数率意味着在许多应用中，管可以在较高的电流下工作，因此可以在与管脚相同的测试时间内达到较低的LOD。
04-12-21 ， 浏览1364
为什么不能用XRF测量氧或氢？为什么像镁和铝这样的轻元素很难测量？
很轻的元素不能用XRF测量的主要原因是这些元素产生的x射线太弱，无法到达探测器。x射线在空气中传播的能力取决于它的能量，对于小于2kev的x射线，大多数在到达探测器之前就被吸收了。
04-12-21 ， 浏览1608
50keV和40keV的分析适合的应用是什么？
当感兴趣的元素的发射线能量较高时（通常>20-25keV），50keV激发是有用的。实际上，这意味着像I、Cs、Ba、La、Nd这样的令人兴奋的元素在使用50keV x射线时会容易得多，而使用4...
04-12-21 ， 浏览1157